高度灵敏的多功能半导体特性曲线扫描仪Curve Tracer，可测量半导体的静态和动态特性。它配备了数字存储，从而允许它显示稳定的波形。适用的最大电压集电极±2kV和最大电流灵敏度100Pa /格；可精确地测量各种半导体特性的模拟讯号。